高溫*納米壓痕測(cè)試儀 (UNHT3 HTV)

儀器簡介：

高溫納米壓痕測(cè)試儀是測(cè)量小載荷下納米尺度機(jī)械性能的測(cè)試系統(tǒng)，溫度在 800 °C 以下的薄膜和涂層的硬度和彈性模量。專 利 UNHT 技術(shù)與獨(dú)特的加熱功能結(jié)合，可提供在任何溫度下的高穩(wěn)定性測(cè)量解決方案。

主要特點(diǎn)：

●環(huán)境條件下低熱漂移 (< 0.5 nm/min) 和整個(gè)溫度范圍內(nèi)低熱漂移 (< 3 nm/min)。

●高載荷框架剛度 (>>106 N/m) 和低框架柔度 (<<0.1 nm/mN)：兩套獨(dú)立的位移和載荷傳感器與高精度電容傳感器結(jié)合，可選擇“控制位移”和“載荷控制”模式。

●高真空系統(tǒng)具有 5 軸磁懸浮渦輪泵和緩沖系統(tǒng)，允許在測(cè)量期間關(guān)閉初級(jí)泵，使振動(dòng)降至*低。

●獨(dú)特的加熱控制系統(tǒng)（3 項(xiàng)專 利待批），采用3 個(gè)紅外 (IR) 加熱器分別用于給壓痕針尖、參比針尖和樣品進(jìn)行加熱，以及 4 個(gè)熱電偶用于將樣品表面溫度控制到 變化在0.1°C 內(nèi)。

●符合 ISO 14577 和 ASTM E2546 **標(biāo)準(zhǔn)

技術(shù)指標(biāo)：

***實(shí)驗(yàn)室條件下規(guī)定的本底噪音值，并使用減震臺(tái)。